Микроскоп металлографический прямой ММЭ-43
- в наличии
ММЭ-43 — это прямой металлографический микроскоп в отражённом свете, ориентированный не только на классические металлографические задачи, но и на инспектирование крупных, протяжённых и габаритных объектов, для которых стандартного столика обычного лабораторного микроскопа уже недостаточно.
Главная особенность модели — предметный стол большого размера 300×268 мм с увеличенным диапазоном перемещения 250×200 мм. Такая конфигурация делает ММЭ-43 особенно удобным для контроля печатных плат, электронных модулей, токопроводящих дорожек, контактных площадок, паяных соединений, поверхностей деталей, а также других непрозрачных объектов с большой площадью.
Именно поэтому ММЭ-43 логично позиционировать как микроскоп для микроэлектроники, контроля печатных плат, ОТК, лабораторий материаловедения, машиностроения и производственных подразделений, где требуется последовательно просматривать крупный объект по всей площади, а не только небольшую локальную зону. Аналогичные задачи “large sample inspection” у промышленных микроскопов обычно связывают с микроэлектроникой, MEMS, материалами и контролем крупных образцов.
Микроскоп работает в отражённом свете в светлом поле, тёмном поле и поляризованном свете, что позволяет решать как задачи рутинного контроля поверхности, так и более прикладные задачи выявления дефектов, границ, неоднородностей, нарушений структуры и особенностей рельефа.
Тринокулярная насадка позволяет подключить цифровую камеру для фото- и видеофиксации. Для документирования результатов, отчётности и измерений рекомендуем использовать цифровые камеры серии МС.
Производство и конфигурация: ООО «Микроанализ», Санкт-Петербург. Комплектация подбирается под задачу — от рутинного лабораторного контроля до инспектирования печатных плат и электронных компонентов.
Технические характеристики ММЭ-43
| Тип микроскопа | Металлографический прямой микроскоп |
|---|---|
| Увеличение микроскопа | 50× – 500× |
| Методы исследования | Светлое поле, тёмное поле и упрощённая поляризация в отражённом свете |
| Размер предметного столика | 300 × 268 мм |
| Диапазон перемещения предметного столика | 250 × 200 мм |
| Перемещение предметного столика по высоте | 24 мм |
| Объективы планахроматы | 5×/0,12; 10×/0,25 BD; 20×/0,40 BD; 50×/0,75 |
| Окуляры широкопольные | 10×/22 |
| Визуальная насадка | Тринокулярная, с возможностью подключения цифровой камеры |
| Источник света | Галогенная лампа |
Галерея
Отличительные особенности ММЭ-43
- Большой предметный стол 300×268 мм — удобен для размещения крупных и протяжённых образцов.
- Большой ход координатного столика 250×200 мм — позволяет последовательно инспектировать значительную площадь объекта без постоянной переустановки.
- Оптимален для печатных плат и электронных модулей — удобен для просмотра дорожек, площадок, контактных зон, паяных соединений и участков локальных дефектов.
- Подходит для габаритных непрозрачных объектов — деталей, пластин, шлифов, элементов приборов и других крупных образцов.
- Методы светлого, тёмного поля и поляризации в отражённом свете расширяют возможности контроля поверхности и структуры.
- Нижнее расположение столика повышает удобство работы с массивными и плоскими образцами.
- Тринокулярная насадка позволяет организовать цифровую фиксацию изображения и отчётность.
- Подходит для ОТК, лабораторий и микроэлектроники, где важна не только кратность, но и возможность работать с большими по площади объектами.
Для каких задач применяется ММЭ-43
- Инспектирование печатных плат, электронных модулей и узлов.
- Контроль дорожек, контактных площадок, through-hole зон, паяных соединений и поверхностных дефектов на платах.
- Рутинный контроль крупных непрозрачных образцов в отражённом свете.
- Наблюдение микроструктуры металлов, сплавов и поверхностей деталей.
- Контроль протяжённых шлифов, пластин и образцов с большой площадью.
- Определение пятна износа стальных шариков при испытании смазочных материалов по ГОСТ 9490-75.
- Фото- и видеофиксация результатов наблюдения для отчётов, ОТК и внутренней документации.
Области применения
- Микроэлектроника
- Инспекция печатных плат и электронных компонентов
- Контроль качества в ОТК и производственных лабораториях
- Металлография
- Порошковая металлургия
- Металлургия
- Машиностроение
- Криминалистика
- Учебные и лабораторные работы
- Определение пятна износа по ГОСТ 9490-75
Где ММЭ-43 особенно уместен
- Лаборатории и участки контроля печатных плат.
- Производства электроники, где требуется инспекция крупных плат и модулей.
- Подразделения технического контроля, работающие с габаритными непрозрачными объектами.
- Лаборатории материаловедения и металлографии, где нужно перемещаться по большой площади образца.
- Задачи контроля поверхностей, дефектов и локальных неоднородностей на крупных деталях.
Когда стоит выбрать именно ММЭ-43
ММЭ-43 имеет смысл выбирать в тех случаях, когда основной объект исследования — не маленький стандартный шлиф, а крупная плата, модуль, пластина, деталь или образец с большой площадью, по которому требуется перемещаться в широком диапазоне.
- Если основная задача — инспекция печатных плат, ММЭ-43 обычно удобнее классических компактных металлографических микроскопов за счёт большого столика и большого хода.
- Если нужно работать с габаритными и протяжёнными образцами, увеличенный стол и координатное перемещение дают заметное практическое преимущество.
- Если требуется отражённый свет, светлое поле, тёмное поле и поляризация для рутинного контроля поверхности и структуры — ММЭ-43 закрывает этот набор задач.
- Если важна цифровая фиксация — микроскоп можно дооснастить камерой и ПО для документирования результатов.
Вопросы по микроскопу ММЭ-43
Для каких задач особенно подходит ММЭ-43?
ММЭ-43 особенно подходит для инспектирования печатных плат, электронных узлов, крупных деталей и других габаритных непрозрачных объектов, где важны большой стол и увеличенный диапазон перемещения.
Почему ММЭ-43 удобен для микроэлектроники?
За счёт большого предметного столика и большого хода координатного механизма микроскоп удобен для последовательного просмотра крупных плат, контактных зон, дорожек, паяных соединений и локальных дефектов по всей площади объекта.
Какие методы наблюдения поддерживает ММЭ-43?
Микроскоп работает в отражённом свете в светлом поле, тёмном поле и поляризованном свете.
Можно ли подключить к ММЭ-43 цифровую камеру?
Да. Тринокулярная насадка позволяет подключить цифровую камеру для фото- и видеофиксации.
Подходит ли ММЭ-43 только для металлографии?
Нет. Хотя микроскоп относится к металлографическим, его практическое преимущество особенно заметно в задачах инспекции печатных плат, электронных компонентов, крупных поверхностей и других непрозрачных объектов с большой площадью.
Можно ли купить ММЭ-43 под лабораторию или ОТК?
Да. Подготовим коммерческое предложение, описание комплектации и сопроводительные материалы для закупки.